분야
hwpⅡ. Procedure
Ⅲ. Analysis Device
3.1 XRD(X-ray diffractometer)
3.1.1 X선 회절의 원리
3.1.2 X선 회절 장치 구성
3.1.3 분석방법
3.1.4 X-Ray Diffraction과 실험과의 관계
3.2 SEM (Scanning Electron Microscope)
3.2.1 SEM의 원리
3.2.2 SEM으로 얻을 수 있는 정보
3.2.3 SEM과 실험과의 관계
3.3 Photoluminescence
3.3.1 Luminescence의 원리
3.3.2 photoluminescence 장치
3.3.3 PL과 실험과의 관계
Ⅳ. Outro
Ⅴ. Reference
➀ 측정된 XRD 데이터를 가지고 X축(2θ), Y축(강도)으로 그래프를 도식화 한다.
➁ 그래프 상의 peak의 위치(2θ)로 Bragg 각(θ)을 찾는다.
➂ 가장 강한 intensity를 가지는 3개의 peak의 Bragg각을 사용하여 면간거리(d)를 계 산한다. (2d sinθ = nλ)
➃ 3개의 면간거리를 JCPDS 데이터와 비교하여 시편의 물질을 찾는다.
(물질을 이미 알고 있다면 JCPDS 데이터와 측정데이터를 바로 비교한다.)
➄ JCPDS에 있는 물질의 회절패턴 데이터와 측정데이터와 비교분석한다.
3.1.4 X-Ray Diffraction과 실험과의 관계
X-선 회절법은 결정성물질의 확인과 분석에 이용된다. 결정 중의 모든 원자들은 입사한 X-선을 모든 방향으로 산란시키는데, 산란된 X-선은 보강간섭 또는 상쇄간섭을 일으킬 수 있다. 보강간섭은 결정 내에서 원자들이 규칙적이면서 반복적인 방식으로 배열 되어있는 경우에 일어난다. 또한 결정으로부터 X-선이 회절 될 수 있는 조건은 Bragg’s Law(2d sinθ = nλ)에 의해 주어진다. 회절 된 파장의 세기는 결정에서 원자들의 배열형태와 기본적인 반복단위, 즉 단위격자내의 원자들의 위치에 따라 결졍된다. 따라서 모든 회절파장의 방향과 세기를 고려할 때 회절파장이 절대적으로 같은 두 가지 물질은 존재하지 않고, 회절파장은 각 결정물질에 따라 고유하게 다르게 나타난다. 그러므로 회절파장은 결정성 화합물의 지문(finger print)이라 할 수 있으며, X-선 회절법은 YAG를 정성적으로 확인하는데 실질적이고 명확한 방법이 되는 것이다.
[2] 윤존도, “주사전자현미경 분석과 X선 미세분석”, 청문각, 2005
[3] 조양구, “전자현미경의 개발과 응용”, 화학세계, 2008.9
[4] 재료분석실험 ppt
[5] http://blog.daum.net/natures/15718217
[6] Synthesis and Sintering of YAG Powder by a Mechanochemical Solid-State
Reaction - 鄭 賢 基 漢陽大學校 大學院 2007年 8月
[7] http://en.wikipedia.org/wiki/Yttrium_aluminium_garnet
[8] Massa W (2004). Crystal Structure Determination. Berlin: Springer.
[9] Cullity B.D. (1978). Elements of X-Ray Diffraction (2nd ed.). Reading, Massachusetts: Addison-Wesley Publishing Company.
[10]Zachariasen WH (1945). Theory of X-ray Diffraction in Crystals. New York: Dover Publications.
