디지털 논리회로
분야
hwp정보를 주고받는 모든 시스템간에는 외적인 요인(전기적인 잡음, 천둥번개 등)으로 인하여 데이터의 에러가 발생하는 경우가 많은데, 이러한 에러들은 검출할 수 있어야 한다.
이러한 에러를 검출하는 방법에는 여러 가지 방법 중 Exclusive-OR(XOR)을사용하여 패리티비트 발생 및 검사회로를 만들어 오류검사를 실행하는 방법을 실험해본다.
2. 사용기기 및 부품
논리실험기 (Digital Logic Lab. Unit)
오실로스코프
7486(4조 2입력 XOR Gate)
7400(4조 2입력 NAND Gate)
7408(4조 2입력 AND Gate)
7432(4조 2입력 OR Gate)
7451(2조 A. O. I Gate)
7404(6조 Inverter)
