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Analysis of Traps Distribution by Hot Carrier Stress in MOSFET Device -
분야 자연과학 > 기타(자연과학)
저자 Soonkon Kim Byoungdeog Choi
발행기관 한국진공학회
간행물정보 한국진공학회 학술발표회초록집 2019년, 2019년 한국진공학회 (제56회 동계정기학술대회 초록집), 291page(총1page)
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목차
부제 :
 
 
Charge pumping, MOSFET, Frequency, Hot carrier stress
 
 
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