분야
hwp제 2 장. 결과 예상
제 3 장. 실험 결과 분석`
3.1 XRD 실험 조건
3.2 JCPDS CARD를 통한 정성분석
3.3 시료 분석 (Zno와 Al2O3)
3.3.1 알루미나
3.3.3.1 알루미나의 종류
3.3.3.2 알루미나의 결정종류
3.3.2 산화아연
3.3.2.1 산화아연의 결정구조
3.4 면간거리 분석
3.5 격자상수
제 4 장. 결론 및 고찰
4.1 결론 및 고찰
4.2 회절가능한 면간 거리 분석
4.3 X선의 peak가 완벽하게 뾰족하게 나오지 않는 이유
Reference
- XRD분석을 통한 Al2O3, TiO2, SiO2, B2O3의 정성, 정량 결정립의 크기 및 구조
분석
2. 결과예상
- 실험 계획서를 작성하면서 우리 조는 XRD 분석 방법과 JCPDS Card 판독법을 익히고, XRD 측정을 통해 얻은 data를 가지고 JCPDS Card 와 비교하여 시료의 결정구조를 알아내는 데에 그 목적을 두었다.
시료의 JCPDS Card를 미리 찾아본 결과, 시료의 XRD 측정 peak는 31,769°, 34,438°, 47.560°, 56,581°, 62.840°, 67.946°, 69.076°부분에서 주peak가 나타난다는 것을 확인할 수 있었다. 이때 나타난 peak의 2-θ 값을 Bragg's law를 이용하여 d값을 구한다. Intensity가 가장 큰 3개의 2-θ 값에서 나온 d값을 차례대로 d1, d2, d3로 정하고, 수치색인에서 d1 값에서 묶여있는 그룹을 찾은 뒤d2와 가장 가까운 d값을 두 번째 줄에서 찾는다. 가장 잘 맞는 d1, d2, d3의 값을 찾은 후에 비교한다. 일치가 가장 잘 되는 줄을 찾아 줄 번호의 데이터 카드를 찾으면 원하는 시료의 JCPDS Card를 찾을 수 있다.
이 카드에서 나온 값과 실험값을 비교한 뒤에 구한 d값을 가지고 카드에 나와 있는 결정구조를 확인하여 면간간격과 면지수를 이용하여서 격자상수를 구한다.
이와 같은 방법으로 시료의 결정구조와 격자상수를 구함으로써 실험을 임할 때 세웠던 목적에 부합하는 결과를 이끌어낼 수 있다.
3. 실험 결과 분석
3.1 XRD 실험 조건
① Type : 2Th/Th locked
주사회전축 : θ/2θ축 - 가장 보편적으로 사용되는 방법. X-선원이 고정되어 있는 상태에서 시료는 θ, 카운터는 2θ로 회전하며 측정하는 방법. 단결정 시편은 시편표면에 평행한 결정면을 하나만 가지고 있기 때문에 그 결정면의 회절선만 크게 나타남.
2. J. S. Leed, Principles of Ceramics Processing, John Wiley & Sons, Inc, 1995.
3. 김영욱, "고순도 알루미나 제조기술," 월간세라믹스 4 [4] 56-58 (1991).
4. Fine ceramics division - www.asuzac.jp/ko/ceramics
5. Crystal structure - http://phycomp.technion.ac.il/~ira/index.html
6. 두산백과사전 - www.encyber.com
8. NDSL.과학기술정보통합서비스 - www.ndsl.kr
9.Gyeongsang National Univ., Dept. of Inorganic Materials Eng., Gajwa-dong 900, Chinju, S.korea
