[재료공학실험] FE-SEM EBSD장비를 이용한 시료의 집합조직 분석 예비 보고서

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소개글
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목차
목 차

1. 실험 목적

2. 배경 이론

3. 실험 장치 및 방법
3-1. SEM(Scanning Electron Microscope)

Information Obtained

3-2. EBSD(Electron BackScatter Diffration Pattern)

3-3 OIM(Orientation Imaging Microscopy)

3-4 실험 내용

4. 실험 결과

5. 실험 예비 문제 (A4용지 2매이내 작성)

6. 참고 문헌


본문내용
1980년대부터 집합조직을 방위분포함수(ODF, orientation distribution function)으로 정 량적으로 표현하기 시작했고, 현재 집합조직을 연구하는 대부분의 연구는 집합조직을 X-선 회절법이나 EBSD(electron backscattered diffraction)로 측정하여 방위분포함수로 계산하 고 있다.

3. 실험 장치 및 방법
3-1. SEM(Scanning Electron Microscope)

Images are produced by scanning a focused electron beam across the surface of a specimen. In the most common mode, the low energy secondary electrons emitted are detected and used to modulate the brightness of a synchronously scanned CRT. Other signals can also be detected. X-rays, characteristic of that part of the specimen probed by the electron beam, allow both a qualitative and quantitative determination of the elements present in the selected region. High energy backscattered electrons can be separated and used for image formation. Since the backscattering efficiency is a function of atomic weight, this image reveals compositional variations due to average atomic number.

Information Obtained
참고문헌
6. 참고 문헌
1) Introduction to Textre Analysis Macrotexture, Microtexture and Orientation Mapping,
Valerie Randle, Olaf Engler
2) Texture Analysis in Materials Science, H.-J. Bunge, Peter R. Morris
3) EBSD - OIM ACADEMY-Ⅱ
고려대학교