![[기기분석] SEM & AFM-1](http://images.happyhaksul.com/thumb/570/569813-0001.gif)
![[기기분석] SEM & AFM-2](http://images.happyhaksul.com/thumb/570/569813-0002.gif)
![[기기분석] SEM & AFM-3](http://images.happyhaksul.com/thumb/570/569813-0003.gif)
![[기기분석] SEM & AFM-4](http://images.happyhaksul.com/thumb/570/569813-0004.gif)
![[기기분석] SEM & AFM-5](http://images.happyhaksul.com/thumb/570/569813-0005.gif)
![[기기분석] SEM & AFM-6](http://images.happyhaksul.com/thumb/570/569813-0006.gif)
![[기기분석] SEM & AFM-7](http://images.happyhaksul.com/thumb/570/569813-0007.gif)
![[기기분석] SEM & AFM-8](http://images.happyhaksul.com/thumb/570/569813-0008.gif)
![[기기분석] SEM & AFM-9](http://images.happyhaksul.com/thumb/570/569813-0009.gif)
![[기기분석] SEM & AFM-10](http://images.happyhaksul.com/thumb/570/569813-0010.gif)
![[기기분석] SEM & AFM-11](http://images.happyhaksul.com/thumb/570/569813-0011.gif)
![[기기분석] SEM & AFM-12](http://images.happyhaksul.com/thumb/570/569813-0012.gif)
![[기기분석] SEM & AFM-13](http://images.happyhaksul.com/thumb/570/569813-0013.gif)
![[기기분석] SEM & AFM-14](http://images.happyhaksul.com/thumb/570/569813-0014.gif)
![[기기분석] SEM & AFM-15](http://images.happyhaksul.com/thumb/570/569813-0015.gif)
![[기기분석] SEM & AFM-16](http://images.happyhaksul.com/thumb/570/569813-0016.gif)
![[기기분석] SEM & AFM-17](http://images.happyhaksul.com/thumb/570/569813-0017.gif)
![[기기분석] SEM & AFM-18](http://images.happyhaksul.com/thumb/570/569813-0018.gif)
![[기기분석] SEM & AFM-19](http://images.happyhaksul.com/thumb/570/569813-0019.gif)
![[기기분석] SEM & AFM-20](http://images.happyhaksul.com/thumb/570/569813-0020.gif)
분야
pptx2.구조 및 기능
3.전처리
4.실험방법
5.전처리/실헝방법
6.결과해석
7.장단점 및 응용분야
★ SEM
시료에 입사된 전자빔의 상호작용으로 다음 3가지 종류의 신호가 발생된다.
후방산란전자
2차 전자
X선 형광
★ AFM
주사탐침현미경
(SPM; scanning probe microscope)
탐침을 시료에 근접시켰을 때 바늘 끝이 느끼는 근접장 상호 작용을 이용하여 표면 형상뿐 아니라 다양한 물리적 특성을 검출하는 장치
AFM
원자힘현미경
atomic force microscope
STM
주사터널링현미경
scanning tunneling microscope
★ Piezo force
특정 물질에 힘을 가해 변형을 주면 표면에 전압이 발생하고 반대로 전압을 걸면 소자가 이동하거나 힘이 발생하는 현상
