두께(d)가 얇아질수록 커진다. 그러므로 두께가 얇아질수록 capacitance의 크기는 커질 것으로 예상하였다.
I-V 그래프에서는 누설 전류(Leakage current)를 측정 할 수 있는데, 이 누설 전류는 산화막의 두께에 따라 다르다. 산화막의 두께가 얇아짐에 따라 누설 전류가 증가하는데, 산화막이 얇아지게 되면 터
두께(d)가 얇아질수록 커진다. 그러므로 두께가 얇아질수록 capacitance의 크기는 커질 것으로 예상하였다.
I-V 그래프에서는 누설 전류(Leakage current)를 측정 할 수 있는데, 이 누설 전류는 산화막의 두께에 따라 다르다. 산화막의 두께가 얇아짐에 따라 누설 전류가 증가하는데, 산화막이 얇아지게 되면 터
두께(d)가 얇아질수록 커진다. 그러므로 두께가 얇아질수록 capacitance의 크기는 커질 것으로 예상하였다.
I-V 그래프에서는 누설 전류(Leakage current)를 측정 할 수 있는데, 이 누설 전류는 산화막의 두께에 따라 다르다. 산화막의 두께가 얇아짐에 따라 누설 전류가 증가하는데, 산화막이 얇아지게 되면 터
1. 두께에 따른 의 I-V graph
<그림8> 두께에 따른 의 그래프
측정구간 : -10V ~ 10V, 변수: 두께 100nm, 200nm, 300nm
I-V 그래프에서는 면적당 전류를 측정 할 수 있는데, 이것을 누설 전류 (leakage current)라고 한다. 이 누설전류는 산화층의 두께에 따라 다르다. 산화막의 두께가 얇아짐에 따라 누설전류가 증
1. 실험목적
MOS capacitor를 직접 제작하며 그 작동 원리를 이해한다. 또한 산화층(SiO2)의 두께(100nm, 200nm, 300nm)와 금속게이트(Au, Ti)를 변수로 하여 이들의 차이에 의한 C-V, I-V 그래프를 분석한 후 이를 바탕으로 산화층의 두께 및 금속게이트의 종류가 MOS capacitor에 미치는 영향을 분석한다.
2. 실험배경