특징은 초점이 높은 심도를 이용해서 비교적 큰 표본을 입체적으로 관찰 할 수 있다는 것이다.
두 가지 전자현미경의 차이를 보면, TEM은 얇은 시편을 beam이 투과하여 관찰하므로 2차적인 또는 단면적인 구조를 나타내지만 SEM은 시료 위를 주사된 상을 관찰하므로 3차원적인 입체상을 관찰할 수 있다.
결과 분석
3.1 XRD 실험 조건
① Type : 2Th/Th locked
주사회전축 : θ/2θ축 - 가장 보편적으로 사용되는 방법. X-선원이 고정되어 있는 상태에서 시료는 θ, 카운터는 2θ로 회전하며 측정하는 방법. 단결정 시편은 시편표면에 평행한 결정면을 하나만 가지고 있기 때문에 그 결정면의 회절선만 크게 나타남.
시편의 기공에 수지를 침투시키는 mounting 방법으로 vacuum impregnation(진공함침)을 이용하기도 한다.
(2) Grinding(갈기)
- Grinding의 목적
표면에 손상을 제거하고, 시편을 편평하게 하여 표면의 조도를 순차적으로 미세하게 한다.
Polishing단계를 보다 짧은 시간 안에 끝낼 수 있도록 최소의 손상만 입은
시편에 투과되는 전자빔의 강도 차를 분석, 형광 스크린 상에 명암이 발생하여 시편의 영상을 얻는 것이다.
1.2 TEM 기술의 발전
TEM 기술의 발전은 입자물리와 전자기학의 발전과 궤를 같이 하며 이루어졌다. TEM 기술이 처음 고안된 때는 1929년 독일의 Ernst Ruska에 의해서이
Ⅰ. 개요
음향음성학은 물리음성학이라고도 하며, 언어음의 음파로서의 특성을 규명하는 것을 목표로 한다. 음향음성학은 음파의 기계적 분석에 의존하게 되므로 전통적인 조음음성학에 비해 객관성이 높지만, 음파형의 물리적 실체는 연속적 현상이므로 이에 의한 음성의 분류에 있어서는 역시 객