높은 에너지의 전자빔을 이용.
전자가 시편과 충돌할 때 발생하는 이차전자, 반사전자, X-선 등을 검출하여 확대상을 촬영하는 장치.
종 류
1. SEM(주사전자현미경)
2. TEM(투과전자현미경)
진공 중에 놓여진 시료표면에 미세한 전자선으로 x-y의 이차원방향으로 주사하여 시료표면에서 발생하는 이
현미경의 이론적 분해능(해상력)은 약 0.001nm이나 생물학적 표본에서 사용되는 분해능은 약 0.14 ~ 0.20nm이다. (참고로 1nm는 10억 분의 1m이다) 주사전자현미경은 주로 시료의 표면을 관찰하는데 쓰인다.
원리는 투과전자현미경과는 다소 다르다. 주사전자현미경은 전자가 표본을 통과하는 것이 아니라, 초
1. 주사전자현미경(SEM)이란?
전자현미경은 빛의 속도로 이동하는 전자의 파동성을 이용한 전자가속기로서 전자빔과 전자기렌즈를 이용하여 촛점을 형성한다. 가속전압은 대개 60-100 keV이고 illumination source로서는 텅스텐으로 만든 필라멘트를 사용하는데, 이를 전자총 (electron gun)이라고 부른다. 전자총
현미경의 내부는 진공상태 - 전자는 공기와 충돌하면 에너지가 소실되거나 굴절되는 등 원하는 대로 제어하기 어렵기 때문
배율 - 표본과 대물렌즈와 렌즈 사이의 거리는 일정, 중간렌즈와 투영렌즈의 코일에 통하는 전류의 세기에 의해 배율이 결정되며
초점 - 대물렌즈의 코일에 흐르는 전류에 의
2.본론
2-1. 현미경이란
현미경의 정의는 사람의 눈으로 관찰이 불가능한 미세한 물일이나 기타샘플을 광학 렌즈와 적당한 빛을 이용하여 자신이 원하는 크기로 확대시켜주는 것을 의미한다.
예전부터 눈으로 볼 수 있는 것보다 더 작은 것을 보고자 한 인류는 16세기에 이르러 확대경을 만들게 되었으