1. AFM 측정 모드별 장단점 비교와 특성에 대해 서술하시오.
(1) AFM(Scanning Force MicroScope)의 원리
'AFM'는 텅스텐 또는 백금으로 된 탐침대신 나노기술로 제조된 프로브를 사용하는데, 이 프로브는 프로브의 모판(substrate) 끝에 아주 미세한 힘(나노뉴톤)에서 쉽게 휘어지는 판형 스프링
(cantilever) 끝에 원자
Like a finger in the macro world so feels a tiny tip on a lever in the nano world a surface Forces are in Pico Newton range the same like intermolecular binding forces
1-1. AFM tip
- actually feels the sample surface.
- silicon nitride
exhibit excellent flexibility, Contact AFM mode
- silicon crystal
high frequency oscillating(100kHz), more stiffer than silicon nitride, non co
특정 상을 구분하기 위한 시편 준비가 힘듦
광학현미경, 전자현미경
여전히 시각적 영상과 경험에 의존
주관적 판단에 따른 오류가능성
그렇다면
종래의 방식들을 보완하기 위해서는??
정량적 분석
AFM(Atomic Force Microscope)
EFM(Electrostatic Force Microscope)
SPM(Scanning Probe Microscope)
투과전자현미경은 주로 시료의 내부구조나 단면을 관찰하는데 쓰이고 있다. 원리는 광학현미경과 비슷하다. 전자현미경에서의 광원은 높은 진공 상태(1x10-4 이상)에서 고속으로 가속되는 전자선으로 이 전자선이 표본을 투과하여 형광판이나 사진필름에 초점을 맞추어 투사된다. 이 전자의 파장은 가
1. 광물의 안정관계와 변성상평형도
광물의 안정관계를 기초로 한 연구는 20세기 초 골드슈미트(V. M. Goldschmidt)와 에스콜라(P. E. Eskola)의 접촉 변성암에 대한 연구로부터 시작되었다. 이들은 접촉변성대 좁은 구역을 온도와 압력이 동일한 것으로 간주하였고 변성암의 광물조합 차이를 두고 원암의 화학