SEM?
Scanning electronmicroscope
To analysis surface of specimen
Qualitative analysis at certain point
Operation principal of SEM
Emission electron from filament
Accelerate electron by electric field
Focusing electron by lens → mono-chromatic electron beam
Generate secondary electron and etc.
Detection of electron
ElectronMicroscope)
Images are produced by scanning a focused electron beam across the surface of a specimen. In the most common mode, the low energy secondary electrons emitted are detected and used to modulate the brightness of a synchronously scanned CRT. Other signals can also be detected. X-rays, characteristic of that part of the specimen probed by the electron beam, allow both a quali
것을 강조하고 있다(교육부, 1999). .
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Ⅱ. 현미경의 종류
1. 광학 현미경(light microscope)
일반적으로 가장 널리 사용하는 현미경이다.
2. 암시야 현미경(dark field microscope)
습윤 표본으로 암시야 콘덴서를 이용하여 어두운 시야에서 빛나는 물체를 관찰할 때 사용한다.
electron beam)을 표본의 표면에 주사한다. 주사된 전자선이 표본의 한 점에 집중되면 일차전자만 굴절되고 표면에서 발생된 이차전자는 검파기(detector)에 의해 수집되어 그 결과 생긴 신호들이 여러 점으로부터 모여들어 음극선관(cathod ray tube)에 상을 형성한다. 주사전자현미경의 특징은 초점이 높은 심도
microscopy
Bright-field microscopy is the simplest of all the optical microscopy illumination techniques. Sample illumination is transmitted white light and contrast in the sample is caused by absorbance of some of the transmitted light in dense areas of the sample.
2) Dark field microscopy
Dark field microscopy describes microscopy methods, in both light and electronmicroscopy, which e