1980년대부터 집합조직을 방위분포함수(ODF, orientation distribution function)으로 정 량적으로 표현하기 시작했고, 현재 집합조직을 연구하는 대부분의 연구는 집합조직을 X-선 회절법이나 EBSD(electron backscattered diffraction)로 측정하여 방위분포함수로 계산하 고 있다.
3. 실험 장치 및 방법
3-1. SEM(Scanning
1. Introduction
1.1 TEM이란?
TEM(투과전자현미경)은 평광한 전자선을 사용하여 시료를 투과시킨 전자선을 전자렌즈로 확대하여 관찰하는 전자현미경이다. 직접배율의 범위는 통상 100배에서 100만배 가량으로 관찰하고자 하는 시편의 파장보다 파장이 더 작은 가속전자를 발생시켜 전자 렌즈계를 거쳐
1) Will a proton and an electron attract or repel each other? Why?
⇒ attract. 전자는 (-)전하를 띠고 양성자는 (+)전하를 가지기 때문이다.
2) What did the Rutherford expriment demonstrate?
⇒ 금으로 된 얇은 막에 α입자(전자가 제거된 He원자)를 충돌시켰다. 그리고 형광 막을 써서
α입자들이 얼마나 산란되
electron beam)을 표본의 표면에 주사한다. 주사된 전자선이 표본의 한 점에 집중되면 일차전자만 굴절되고 표면에서 발생된 이차전자는 검파기(detector)에 의해 수집되어 그 결과 생긴 신호들이 여러 점으로부터 모여들어 음극선관(cathod ray tube)에 상을 형성한다. 주사전자현미경의 특징은 초점이 높은 심도
recognition in nanoscale systems.
While microfabrication techniques such as photolithography, microcontact
printing, micromachining, and microwriting can produce patterns as small
as 0.1 mm, production of sub-100-nm structures still poses a significant
challenge.
At present, such high-resolution fabrication can be achieved using scanning
probe lithography (SPL).