특성X선(Characteristic X-rays)의 파장은 Target 물질을 구성하고 있는 원소에 따라
그 고유의 값을 갖음,,,, K, L, M, ... 등의 계열로 분류.
각 계열의 파장은 K < L < M ... 순이며,같은 계열에서도 근접한 몇 개의 파장군으로 구성됨.
K계열(K series) 는 Ka1, Ka2, Kb1, ...,
L계열(L series)는 La1, La2, Lb1, Lb2,
Examination of the microstructural image of a specimen magnified by a reflected light microscope from 50x to 1000x in air( or up to 2000x with oil immersion).
Features of metallurgical specimens such as grains, gbs, cracks, ppts can be distinguished because they differ in contrast, caused by the differences in (a) the amount of light absorbed and (b) the inclination of those atomic planes that
XRF(X-Ray Fluorescence Spectrometry ; X-선형광 분광법), NAA(Neutron Activation Analysis ; 중성자 방사화 분석법) 등이 있다.
이들 기기분석법을 적용하는데 있어서 높은 정확도의 양질의 데이터를 얻기 위해서는 측정장비의 최적화(instrumental optimization)와 분석자의 자질도 중요한 요소이나 그보다 앞서 측정전의 대상
1-1. X-선의 성질
X-선은 빛과 마찬가지로 보이지 않으며 직진성을 가지고 불투명한 물질에 대해서도 침투력을 나타내어 여러 분야에 유용하다. 특히, 불투명한 물체의 내부구조가 미세구조 연구에 주로 이용되어진다.
X-선은 두 가지 서로 다른 원인에 의해 발생될 수 있다.
첫째 X-선관의 target
1. 주사전자현미경 (SEM, FE-SEM)
- 개요 -
NT(Nano Technology)의 연구가 증가하면서 자연스럽게 미세구조물 또는 재료의 표면 형상에 대한 정보가 요구되고 있는 것이 현재의 추세이다. 이러한 요구를 충족시키기 위하여 전자현미경이 계발 되었다.
주사전자현미경(SEM)은 Torr 이상의 진공 중에 놓인 시료표