silicate 수에 따라서 안정한 구조를 나타내기 위해서 구조가 달라질 수 있음.
②건조 시간의 차이로 인한 구조 변화
-계면활성제와 silicate 사이에 매개하고 있던 물이 건조로 인해 날아가면서 g가 상승하게 되고 이에 따라 cubic이나 lamellar 구조로 변하게 된다. 이 구조 변화로 인해 XRD peak가 달라진다.
회절패턴 데이터와 측정데이터와 비교분석한다.
3.1.4 X-Ray Diffraction과 실험과의 관계
X-선 회절법은 결정성물질의 확인과 분석에 이용된다. 결정 중의 모든 원자들은 입사한 X-선을 모든 방향으로 산란시키는데, 산란된 X-선은 보강간섭 또는 상쇄간섭을 일으킬 수 있다. 보강간섭은 결정 내에서 원자
1. 과제 : GaAs/CdTe 의 회절상을 분석.
2. 과제의 목적 : 주어진 GaAs/CdTe의 회절패턴을 분석하여 결정학적인 정보를 얻는다.
TEM의 장점을 이용하여 매우 작은 미세영역을 분석할 수 있다.
3. 원리 :
1)TEM을 이용한 분석은 XRD와 마찬가지로 bragg's law를 만족하여 nλ=2dsinθ의 d를 이용하여 격
분말을 제조하는 것이다.
이때 고상반응법을 이용하여 하소 과정에서 일어나는 반응, 특성, 상의 변화, 소결과정에서 일어나는 반응, 특성 등을 이해하고, X-선회절분석과 광학현미경으로 미세구조를 관찰하며 높은 유전율과 강유전성을 나타내는 페롭스카이트(Perovskite)구조의 BaTiO₃를 측정한다.