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대학레포트
[기기분석] 주사현미경(SEM), AFM
투과전자현미경은 주로 시료의 내부구조나 단면을 관찰하는데 쓰이고 있다. 원리는 광학현미경과 비슷하다. 전자현미경에서의 광원은 높은 진공 상태(1x10-4 이상)에서 고속으로 가속되는 전자선으로 이 전자선이 표본을 투과하여 형광판이나 사진필름에 초점을 맞추어 투사된다. 이 전자의 파장은 가
2012-03-21 | 3,000원 | 78p |
기기분석 주사현미경 AFM SEM 현미경
[기기분석] 주사현미경(SEM), AFM
[공학]매트랩에 대해 가르쳐 드리죠..
2004-05-19 | 0원 | 0p |
매트랩 공학
[공학]매트랩에 대해 가르쳐 드리죠..
지진공학연수 보고서
2004-05-19 | 0원 | 0p |
지진공학연수 연수 지진 공학 보고서 보고
지진공학연수 보고서
[전산] 프로그램 수치계산 C소스
2004-05-19 | 0원 | 0p |
수치계산 C소스 계산 수치 프로그램 전산 소스 C
[전산] 프로그램 수치계산 C소스
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