1. AFM측정모드별 장단점 비교와 특성에 대해 서술하시오.
(1) AFM(Scanning Force MicroScope)의 원리
'AFM'는 텅스텐 또는 백금으로 된 탐침대신 나노기술로 제조된 프로브를 사용하는데, 이 프로브는 프로브의 모판(substrate) 끝에 아주 미세한 힘(나노뉴톤)에서 쉽게 휘어지는 판형 스프링
(cantilever) 끝에 원자
투과전자현미경은 주로 시료의 내부구조나 단면을 관찰하는데 쓰이고 있다. 원리는 광학현미경과 비슷하다. 전자현미경에서의 광원은 높은 진공 상태(1x10-4 이상)에서 고속으로 가속되는 전자선으로 이 전자선이 표본을 투과하여 형광판이나 사진필름에 초점을 맞추어 투사된다. 이 전자의 파장은 가
나노기술의 참된 발전방향을 알아보겠다.
제1장 서론
I.나노기술이란 무엇인가
모든 사물이 커야만 한다라고 하는 것은 20세기 과학기술의 중요한 경향이었다. 그러나 20 세기 후반 마이크로 전자기술의 도입으로 사물은 크기의 소형화, 휴대의 간편화, 지능화로 가고 있다. 나노기술은 물체를 원자나
마이크로리터 이하의 적은 시료를 다룰 수 있도록 시스템이 설계되어 있다. 생물학적 시료는 일반적으로 단가가 비싸고, 그 양을 많이 준비하기가 어렵다. 그래서 최근의 나노기술은 이러한 바이오 분석시스템의 소형화에 있어 필수 불가결한 기술이 되고 있다. 분석시스템의 소형화는 분석단가를 낮
나노기술의 정의
나노 기술은 나노미터 수준에서 물질을 다루는 기술을 말한다. 나노(nano)'라는 말은 난쟁이를 뜻하는 고대 그리스어 나노스(nanos)에서 유래된 것으로서, 1나노미터는 1미터의 10억분의 1이고, 1밀리미터의 100만분의 1이다. 이는 머리카락 굵기의 약 8~10만분의 1
정도이며, 수소원자 10개를