1. 실험목적
X선은 파장이 0.01~100Å정도의 전자기파이다. 본 실험에서 이용하게 될 X-Ray Diffraction법(이하 XRD)은 X선의 파장이 원자 및 이온의 크기, 혹은 격자의 크기와 비슷한 상황에서 회절하는 현상을 이용하며, 결정구조를 해석하기 위한 가장 유력한 연구수단으로서 널리 사용된다.
본 실험에서
X선(X-Rays)은 진공중에서 고전압에 의하여 가속된 초고속의 전자(Electron)를 만들어 음극(Target)에 충돌 시키면 발생한다.이때 전자의 운동에너지의 대부분은 열로 변환되며, X선(X-Rays)의 에너지로 변환되는 비율은 다음식과 같이 일반적으로 0.1% 정도로 아주 작다.
X- ray diffractometer (XRD) 의 구성
<1> 일반적으로 Generator, Goniometer, Monochromator, 검출기, 계수기록회로로 구성.
1. X-ray Generator (X선 발생장치)
1) X-ray Tube (X선관)
: x선관은 열전자 2극 진공관의 일종이다. 가열된 음극(일반적으로 텅스텐 필라멘트 사용)으로부터 나온 열전자를 가속시켜 Target(대음극) 에
1. 실 험 목 적
마이크로파의 편광현상을 이해한다.
2. 실 험 기 기
Transmitter
Receiver
Metal Reflector
Goniometer
Component Holder
3. 실 험 이 론
빛과 같이 진행방향에 대해 수직으로 물리량이 진동을 하는 횡파의 경우에는 진행방향을 z방향이라 할 때 진동방향은 x나 y 두 성분으로 분해할 수 있고, 이를 각각
1. 실 험 목 적
마이크로파의 반사현상을 이해한다.
2. 사진으로 보는 실험기구
Transmitter
Receiver
Metal Reflector
Goniometer
Component Holder
3. 실 험 이 론
빛은 전파되다가 다른 매질을 만나면 그 경계면에서 그 일부가 되돌아오게 되는데 이러한현상을 빛의 반사라고 한다. 파동이 반사될 때 입사각과 반사