X선(X-Rays)은 진공중에서 고전압에 의하여 가속된 초고속의 전자(Electron)를 만들어 음극(Target)에 충돌 시키면 발생한다.이때 전자의 운동에너지의 대부분은 열로 변환되며, X선(X-Rays)의 에너지로 변환되는 비율은 다음식과 같이 일반적으로 0.1% 정도로 아주 작다.
3)XRD 이론
◇ X선회절법이란 ?
X선회절법에 의한 정성분석은 미지시료의 회절 pattern 과 이미 알고있는 물질의 회절 pattern 등을 비교하여 전자중에 후자의 pattern이 포함되어 있으면, 전자에는 후자의 물질이 함유되어 있다고 판정하는 방법이다. 이 방법으로 정성분석(Qualitative analysis)을 행하는 것을
1. 실험목적
X선은 파장이 0.01~100Å정도의 전자기파이다. 본 실험에서 이용하게 될 X-Ray Diffraction법(이하 XRD)은 X선의 파장이 원자 및 이온의 크기, 혹은 격자의 크기와 비슷한 상황에서 회절하는 현상을 이용하며, 결정구조를 해석하기 위한 가장 유력한 연구수단으로서 널리 사용된다.
본 실험에서
XRD 특징
① 시료에 대한 제한이 적고 시료를 파괴함이 없이 측정기능하고 측정시간은 수십 분 정도이다. 시료는 금속 ,합금, 무기화합물, 암석광물, 유기화합물, 폴리머, 생체재료 등 무엇이든 가능하고, 결정질 및 비정질재료 모두 측정가능하고, 분말시료든지 판상, 액체, 리본, thin film l편에 대해서
회절패턴 데이터와 측정데이터와 비교분석한다.
3.1.4 X-Ray Diffraction과 실험과의 관계
X-선 회절법은 결정성물질의 확인과 분석에 이용된다. 결정 중의 모든 원자들은 입사한 X-선을 모든 방향으로 산란시키는데, 산란된 X-선은 보강간섭 또는 상쇄간섭을 일으킬 수 있다. 보강간섭은 결정 내에서 원자