Ⅰ. X선(엑스선)회절실험 소개
1912년 X-선의 파장을 측정하는 방법이 개발되었다. 회절을 이용한 측정법이 가장 이상적인 것으로 생각되었으나 만족할 만한 결과를 얻기 위해서는 회절격자의 인접선 사이의 간격이 빛의 파장과 거의 같아야 하며, 이와 같이 X-선의 파장에 대응되는 좁은 간격의 회절격
통하여 복합체 표면을 관찰하고, 또한 X-선 회절법을 이용하여 은나노 입자의 특성 회절패턴을 확인해 볼 것이다. 설계의 최종목표는 향균 특성을 알아보는 것은 화학과 관련하여, 우리의 전공영역에서 벗어나기 때문에, 설계 범위를 활성탄 속의 은나노 입자를 확인하는 것으로 정하였다.
X선(X-Rays)은 진공중에서 고전압에 의하여 가속된 초고속의 전자(Electron)를 만들어 음극(Target)에 충돌 시키면 발생한다.이때 전자의 운동에너지의 대부분은 열로 변환되며, X선(X-Rays)의 에너지로 변환되는 비율은 다음식과 같이 일반적으로 0.1% 정도로 아주 작다.
X선(X-Rays)의 파동성과 결정내 원자의 규칙적인 배열을 동시에 입증한 계기가 되기도 하였다.
같은해 영국의 Bragg는 이를 다른 각도로 해석하여 Laue가 사용했던 수식보다 더욱 간단한 수식으로 회절에 필요한 조건을 Bragg's law (2d sin θ= nλ) 로 나타내었으며 이 X선회절(X-Ray Diffraction)현상을 이용하여 각종
2.분광광도계
분광된 단색광을 측정시료에 비쳐 시료에 의해서 흡수 혹은 반사된 빛의 양을 광전관으로 검출하는 장치. 일반적인 비색분석법에 쓰는 간단한 것으로부터 고감도로 정밀한 것까지 여러 종류가 있다. 일반적 분광 측정범위는 190~2,500nm(자외~근빨강외)이고, 보다 장파장의 3~4μm 이상(원적외