1.1 실험 제목
- XRD분석을 통한 Al2O3, TiO2, SiO2, B2O3의 정성, 정량 결정립의 크기 및 구조
분석
2. 결과예상
- 실험 계획서를 작성하면서 우리 조는 XRD분석 방법과 JCPDS Card 판독법을 익히고, XRD 측정을 통해 얻은 data를 가지고 JCPDS Card 와 비교하여 시료의 결정구조를 알아내는 데에 그 목적을 두
XRD)은 X선의 파장이 원자 및 이온의 크기, 혹은 격자의 크기와 비슷한 상황에서 회절하는 현상을 이용하며, 결정구조를 해석하기 위한 가장 유력한 연구수단으로서 널리 사용된다.
본 실험에서는 희토류 금속의 첨가에 대한 의 격자상수를 측정해 비교 분석하고 그에 따른 변화와 특성을 판단하는데
2.본 론
2.1 XRD를 이용한 고분자의 분석
2.1.1 금속과 고분자의 차이
금속은 결정으로 되어있다. 그래서 XRD를 이용해 그 구조를 알 수 있다. 더 나아가서는 그 금속이 무엇인지를 찾아서 알 수도 있다. 하지만 고분자는 비정질로서 결정을 가지고 있지 않다. 정확한 위치에서 회절이 일어나지 않으며 back
(1) XRD분석도구의 설명
결정에 X선을 쬐면 결정 중 각 원자는 입사 X선을 모든 방향으로 산란시키며,
이 산란된 X선들이 합쳐져 회절 X선을 형성하게 된다.
회절이 일어나기 위한 필요조건은 Bragg`s Law 이다.
X선 회절 분석으로 얻을 수 있는 정보는
회절선의 위치는 결정의 기하학에 대한 정보
강
2. 2. XRD
그림 2) X-선 발생
2. 2. 1. X-ray
오른쪽 그림 (2)과 같이 X-선(X-Rays)의 생성은 진공 중에서 고전압에 의하여 가속된 초고속의 전자(Electron)를 만들어 음극(Target)에 충돌시킴으로서 발생한다. 또한 고속으로 충돌된 전자의 운동에너지 중 X선(X-Rays)의 에너지로 변환되는 비율은 일반적으로