투과한 전자들을 이용한 기기가 투과전자현미경이다.
광학현미경에서는 영상을 형성할 때 가시광선을 사용하나, 전자현미경에서는 전자비임을 이용한다. 그 이유는 파장이 짧을수록 분해능(resolution)이 증가하기 때문이다. 다음 그림은 여러 전자기파의 파장을 보여 준다.
TEM의 구성
TEM은 여러개의
1. Introduction
1.1 TEM이란?
TEM(투과전자현미경)은 평광한 전자선을 사용하여 시료를 투과시킨 전자선을 전자렌즈로 확대하여 관찰하는 전자현미경이다. 직접배율의 범위는 통상 100배에서 100만배 가량으로 관찰하고자 하는 시편의 파장보다 파장이 더 작은 가속전자를 발생시켜 전자 렌즈계를 거쳐
전자현미경의 특징은 초점이 높은 심도를 이용해서 비교적 큰 표본을 입체적으로 관찰 할 수 있다는 것이다.
두 가지 전자현미경의 차이를 보면, TEM은 얇은 시편을 beam이 투과하여 관찰하므로 2차적인 또는 단면적인 구조를 나타내지만 SEM은 시료 위를 주사된 상을 관찰하므로 3차원적인 입체상을 관
전자현미경에는 투과전자현미경과 주사전자현미경의 두 종류가 있다. 아래 그림 왼쪽에서와 같이 세포나 조직의 내부구조를 관찰하기 위하여 시료를 앏게 잘라서 만든 단면을 전자로 투과한 후 형광판에 상을 만드는 것이 TEM(투과전자현미경)이고, 오른쪽 그림과 같이 시료의 겉 표면 또는 부러
만들게 되었으며 이는 현미경개발로 이어지게 되었다. Leeuwenhoek의 단안렌즈현미경에서 시작하여 복합현미경을 거쳐 현재 많은 현미경이 개발되고 있는 실태이며 신소재공학뿐이나리 생명공학, 정밀공학 등 많은 과학적분야에서 쓰이고 있다.
그림2. SEM의 기본구조
그림3. SEM의 모습
2-2. SEM