Ⅰ. X선(엑스선)회절실험 소개
1912년 X-선의 파장을 측정하는 방법이 개발되었다. 회절을 이용한 측정법이 가장 이상적인 것으로 생각되었으나 만족할 만한 결과를 얻기 위해서는 회절격자의 인접선 사이의 간격이 빛의 파장과 거의 같아야 하며, 이와 같이 X-선의 파장에 대응되는 좁은 간격의 회절격
Ⅰ. X선(엑스선)의 성질
1. X선(엑스선)의 발생
매우 빠른 속도의 전자가 갑자기 정지될 때 X선이 발생한다. X선을 발생시키는 X선관(X-ray tube)에는 전자의 공급원인 필라멘트와 2개의 전극이 있는데 이 양극 사이에는 수만 볼트의 전압이 걸려 있어 이 때문에 전자가 필라멘트, 즉 음극에서 튀어나와 대
XRD를 이용한 미지의 시료 정량/정성 분석
1. 실험목적
X선은 파장이 0.01~100Å정도의 전자기파이다. 본 실험에서 이용하게 될 X-Ray Diffraction법(이하 XRD)은 X선의 파장이 원자 및 이온의 크기, 혹은 격자의 크기와 비슷한 상황에서 회절하는 현상을 이용하며, 결정구조를 해석하기 위한 가장 유력한 연구
회절(Diffraction)실험이 성공하여, X선(X-Rays)의 파동성과 결정내 원자의 규칙적인 배열을 동시에 입증한 계기가 되기도 하였다.
같은해 영국의 Bragg는 이를 다른 각도로 해석하여 Laue가 사용했던 수식보다 더욱 간단한 수식으로 회절에 필요한 조건을 Bragg's law (2d sin θ= nλ) 로 나타내었으며 이 X선회절(X-Ray
X선(X-Rays)은 진공중에서 고전압에 의하여 가속된 초고속의 전자(Electron)를 만들어 음극(Target)에 충돌 시키면 발생한다.이때 전자의 운동에너지의 대부분은 열로 변환되며, X선(X-Rays)의 에너지로 변환되는 비율은 다음식과 같이 일반적으로 0.1% 정도로 아주 작다.