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분야
hwp1. 정의
2. 특징
3. 용도
4. 참고문헌
(2). X-선 분광분석장치
1. 정의
2. 특징
3. 용도
4. 참고문헌
(3) TEM
1. 정의
2. 특징
3. 용도
4. 참고문헌
(4) SEM
1. 정의
2. 특징
3. 용도
4. 참고문헌
빛(가시광선)에 비하여 파장이 수천∼수만 분의 일인 X-선은 빛에서 사용하는 회절격자를 쓸 수 없다. X-선의 파장을 정확하게 측정하기 위한 회절격자는 격자간격이 Å정도의 값을 가져야 할 것이나 이러한 간격의 무늬를 만드는 것은 불가능하다. 마침 원자의 크기가 이 정도 되고 결정(crystal)은 원자들이 규칙적으로 배열된 것이기 때문에 회절격자에서 처럼 X-선을 분광할 수 있다.
결정에 있는 무수히 많은 원자들 각각이 X-선을 회절하여 이것이 중첩된 효과가 특이하게 나타나는데 이를 간단한 두 가지 원리로 브랙(Bragg)이 정리하였다. 브랙의 법칙에 의한 파의 회절이 나타나는 조건은 다음 두 가지이다 (그림 1).
(1) 파가 결정면에 입사할 때 평행한 결정의 평면들에 의해 마치 반사의 법칙을 따르는 것처럼 회절 된다. 이 가상적인 결정면들을 브랙 면이라 한다.
그림 1은<"마이크로파의 브랙회절" 참조> 부분에 링크되어 있습니다.
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