1. 임펄스 테스트
(a) 주어진 데이터를 이용하여 x축을 주파수, y축을 축의 길이, z축을 응답의 크기(magnitude)로 하여 3차원의 그래프를 1번, 5번, 그리고 7번 노드에서 그리시오. 이 경우 복소수로 주어진 데이터를 응답의 절대값과 위상이다. 이를 실수와 허수값으로 각각 나타낼내어 그래프를 그려보고,
Ⅰ. 서론
장애인에 대한 사회복지적 접근의 역사는 분리와 통제중심에서 지역사회의 참여를 지원하는 활동이라는 맥락으로 즉 개별적, 자선적 접근에서 사회적, 제도적 접근으로 발전, 변화되어 왔다. 사회경제적 토대에 따라 장애를 보는 시각이 변하였으며, 변화된 시각에 따라 장애인에 대한 사
1.실험목적
면저항(Sheet Resistance)의 개념을 이해하고 4-point probe를 이용하여 박막의 면저항을 측정하고 측정값과 이론값을 비교한다.
2.문제
⓵면저항의 정의
:비저항, R:전체 저항
:면저항(Sheet resistance)
,
전체저항은 크기에 영향을 받기 때문에 저항을 비교하기 위해서는 크기를 통일한다.
1) 무언의 캐어묻기 : 대답이 불완전하거나 미진할 때, 그 다음 말을 기대하는 듯 상대방을 응시하여 대답을 더 자극하는 것으로써 고갯짓, 눈짓, 얼굴표정 등의 행위를 이용
2) 드러내 놓고 권장 방법 : 말 또는 고개를 끄덕이며 장려하는 방법으로써, 주로 ‘네네’, ‘그렇습니까?’, ‘아, 그것 재미있
2. Discuss
- Probe experiments at the hands of the participants so the experiment result can be errors.
- As in the case of the specimen in contact with the probe is part of the specimen uneven or rough surface causing the problem occurs.
- The specimen could never achieve exactly perpendicular with probe so the error can be occur
4. 실험방법
1) 측정신호 연결 방법
․ 일반적으로 PROBE를 사용. PROBE에는 1X(직접연결)위치와 10X(감쇄)위치가 있는데 10X 위치에 서는 PROBE 입력 임피던스가 증가되어 입력신호가 1/10로 감쇄되므로 측정단위를 10배 곱해야 한다.
2) 초기 동작 조정과 보정 (Calibration)
① 파형측정기의
B. 실험방법
a. 초기 동작 조정과 보정
b. 파형측정
①악어클립이 달린 케이블을 신호발생기 출력단자에 연결하고 PROBE를 파형특정기 CHI X IN 단자에 연결하여 이 두 케이블 끝을 같은 검은색 클립으로 연결하고 주홍색 클립은 훅크에 연결한다.
②스위치를 켜고 함수발생기와 파형측정기를 다음과 같
4) 파형 측정 실습
① 악어클립이 달린 케이블을 신호발생기 출력단자(23)에 연결. PROBE를 파형특정기 CH1 X IN 단자(9) 에 연결한다.
② 검은색 클립은 같은 검은색 클립으로 연결하고 주홍색 클립은 훅크에 연결한다.
③ POWER 스위치를 켜고 함수발생기와 파형측정기를 책에 나온 표와 같은 상태
Atomic Force Microscopy or Scanning Force Microscopy
AFM is one of many techniques which fall under the Scanned Probe Microscopy (SPM) family of instruments. In all of these SPM techniques a small probe (10-100 nm radius of curvature) is scanned by a piezoelectric device over a sample to produce an image of the sample surface.The first of the SPM techniques was the Scanning Tunneling Microsc