탐침(Explorer, #11/12)의 적용과정
“전치부”
① 탐침을 변형연필잡기법으로 힘을 빼고 가볍게 잡는다.
② 해당 치아 또는 인접치아의 치면 위에 정확히 손고정을 하고, 탐침의 하방 연결부가 치아장축과 평행을 이룬 상태인지 확인하여 올바른 tip을 결정한다.
③ 탐침을 절치의 순·설면 중앙부위
2. Hall Probe를 이용한 자기장 측정
Gauss Meter 자기장 측정장치로 가장 많이 사용되는 것이 Hall effect Gauss meter이다. 반도체 물질을 자기장에 수직되게 놓고 전류를 흘려주면 시료 내부에 형성된 전기장에 의하여 전자나 정공이 받는 힘과 Lorentz Force가 평형을 이루게 되어 반도체 양면에 생성된 전압은 자
To understand operation system of SEM
To acknowledge of D.O.F and Resolution
To find what becomes differ by Aperture Size
Aperture
D.O.F / Resolution
Convergence angle
Probe current
Probe diameter
Change Aperture
Change Magnification
How to change D.O.F
How to change resolution
An aperture is a hole or an entrance which is passing light.
Controlling aperture
Probe method
2.4.1표면저항 (ohm/sq = Ω/□: Sheet resistance)
표면저항은 보통 단위 Ω/□로 표시된다. 일반적인 선 저항은 두 개의 probe로 임의의 거리에 대한 저항을 측정하지만, 표면저항의 경우에는 동일한 간격의 4개의 탐침으로 측정하게 된다. 이때 쓰이는 Probe가 Four point probe이고, 보통 탐침은 1mm간격으
2016년 12월 12일 주식을 코스닥 시장에 상장하였으며 주요 주주로는 임동준(6.49%), 조병호(6.28%), 임진환(5.4%) 등이 있다.
# 사업의 내용
마이크로프랜드는 반도체 제조공정 중 반도체 소자의 전기적 기능의 검사를 위한 테스트 공정에 소요되는 프로브 카드(Probe Card)를 제조, 판매하고 있다.
Ⅰ. 서론
오늘날 세계의 산업 및 정보기술의 발전 방향은 문화적 가치를 담아내고 향유하는 형태로 진행되고 있다. 특히 여당의 한 대선주자는 재작년 대학로 마로니에 공원에서 개최된 한 연극제 개막식에서 "21세기는 문화의 세기이며 문화산업의 발전 정도가 그 나라의 국가경쟁력을 좌우한다.”
Ⅰ. 서론
오늘날 세계의 산업 및 정보기술의 발전 방향은 문화적 가치를 담아내고 향유하는 형태로 진행되고 있다. 특히 여당의 한 대선주자는 재작년 대학로 마로니에 공원에서 개최된 한 연극제 개막식에서 "21세기는 문화의 세기이며 문화산업의 발전 정도가 그 나라의 국가경쟁력을 좌우한다.”
recognition in nanoscale systems.
While microfabrication techniques such as photolithography, microcontact
printing, micromachining, and microwriting can produce patterns as small
as 0.1 mm, production of sub-100-nm structures still poses a significant
challenge.
At present, such high-resolution fabrication can be achieved using scanning
probe lithography (SPL).
Definition and Biochemistry
of Lectins
Structure : Origin protein + 탄수화물 (ligand)
· Sources of lectins : Animals, plants, bacteria
· Grouping ; by their preferential binding to the type
D-pyranose sugars
by dependent ; C-type or S-type
Lectin as Diagnostic Probes
Binding specificities
Ex ) Covavlin A(Con A) – Gluc
Probe station
voltage에 따른 current와 capacitance를 측정하는데, 이 장비는 wafer에서 각 chip의 전기적 특성검사를 통하여 양/불량을 선별하는 EDS Tester system의 필수적인 구성요소로써, memory tester와 연결되어 prober를 이용하여 직접적으로 test하고자 하는 chip 또는 IC에 전압을 가하여 발생된 전기적 특성을 메모리