회절X선이 생긴다.
라. SEM (주사전자현미경)
- 물체의 표면의 구조를 확인
- 압력에 따른 Grain boundary의
크기를 확인하기 위해서 SEM 촬영을 함
가. 성형 후 밀도 측정
성형 압력에 따라 성형체 높이의 평균값이 다름
성형압력이 클수록 밀도는 커지고 높이는 줄어드는 경향을 보
Ⅰ. 알버트 마이켈슨의 업적
Machelson의 전공에 관한 업적은 초정밀측정에 이어서 수십 년 동안의 빛의 속도에 관한 자릿수의 발전에 관한 것으로 높은 가치를 살만하다. 그는 특별한 분광선의 파장으로서 미터를 다시 정의하고 별의 직경까지도 잴 수 있는 간섭계를 고안했다(실제로 가장 정밀한 망원
5. 오차의 원인 및 분석
본 실험결과를 위한 과정을 수행하며 몇가지 오차가 발견되었다. 그 오차는 다음과 같다.
① JCPDS와 비교할 때 ZnO의 최대 Peak에서 0.06의 면간거리 오차
② Al2O3의 최대강도 peak와 강도의 순서가 JCPDS와 다르게 나온점
③ 정량분석의 결과값
이상의 발견된 오차에 대해 오차의
3)XRD 이론
◇ X선 회절법이란 ?
X선회절법에 의한 정성분석은 미지시료의 회절 pattern 과 이미 알고있는 물질의 회절 pattern 등을 비교하여 전자중에 후자의 pattern이 포함되어 있으면, 전자에는 후자의 물질이 함유되어 있다고 판정하는 방법이다. 이 방법으로 정성분석(Qualitative analysis)을 행하는 것을
회절법을 이용하여 은나노 입자의 특성 회절패턴을 확인해 볼 것이다. 설계의 최종목표는 향균 특성을 알아보는 것은 화학과 관련하여, 우리의 전공영역에서 벗어나기 때문에, 설계 범위를 활성탄 속의 은나노 입자를 확인하는 것으로 한정하였다.
0.1 M AgNO3용액 500 mL를 제조한 다음 여기에 안정제로
선의 검출효율이 훨씬 좋고 부피가 큰 검출기도 입수 가능
γ선의 측정, 특히 에너지 측정에 널리 사용
Si(Li)는 3∼10㎜ 두께의 것이 저에너지(< 30eV)의 X선, γ선이나 고에너지 β선의 측정에 적합
고순도형(pure Ge type)
저온에서 전기저항이 매우 높고, 높은 바이어스 전압 가능
유지하기에
1. 실험 제목 : MgO - NiO 고용체 분말의 X-선 분말 회절 실험
2. 실험 목적 및 필요성
- 재료과학에서 배운 X-선 회절에 대한 기본 이론과 측정 원리로부터 금속 세라믹 분말 시료의 X-선 회절 패턴을 얻고 간단한 계산을 통하여 이론을 확인한다.
또한 우리가 X-선 회절 실험을 하는 목적은 시료의
선의 발견과 같은 것은 과학자의 세계에 속한 항목에 단순히 한 종목을 더 첨가하는 것이 아니다. 궁극적으로 하나의 발견은 그런 결과를 가져오게 되지만, 전문가 사회가 전통적 실험 과정을 재평가하고 오랫동안 익숙해 온 실체에 대한 그 개념을 개조하는 과정에서 세계를 다루는 이론의 조직망을
유리 그리고 플린트 유리(납 유리)의 굴절률들은 낮은 빛의 편향에서 프리즘을 통과한 빛의 굴절에 의해 파장의 기능으로 결정되어진다. 유리 프리즘들의 분해능은 분산 곡선으로부터 결정된다.
3. 관련 주제들
: Maxwell relationship, 분산, 편극율, 회절 격자, 분광계 측각기, 굴절률, 프리즘
4. 이론