[실험] 캐패시터의 리액턴스(XX)(예비)
![[실험] 캐패시터의 리액턴스(XX)(예비)-1](http://images.happyhaksul.com/thumb/384/383266-0001.gif)
![[실험] 캐패시터의 리액턴스(XX)(예비)-2](http://images.happyhaksul.com/thumb/384/383266-0002.gif)
분야
hwp이론적 배경
실험 준비물
예비 점검
1. 다음과 같은 캐패시터의 리액턴스공식을 실험적으로 확인한다.
Xc = 1/2𝝅𝔣C
이론적 배경
캐패시터의 용량성 리액턴스 Xc는 교류회로에서 전류의 흐름을 방해하는 정도를 나타낸다. 용량성 리액턴스의 단위는 오옴이나 유도성 리액턴스 XL 또는 용량성 리액턴스 Xc는 저항계로 측정할 수 없다. 더욱이 용량성 리액턴스는 교류회로에서 전류에 미치는 영향을 관찰함으로써 간접적으로만 측정할 수 있다. 용량성 리액턴스는 다음 식과 같이 주파수에 따라 변화한다. 식으로 보면 Xc = 1/2𝝅𝔣C 이다. 여기서 Xc의 단위는 오옴이며 C는 F, 𝔣는 Hz의 단위이다. 캐패시터에 𝜇F값을 대입시키면 Xc = 10⁶/2𝝅𝔣C 이다. 결과값은 𝜇F으로 표시된다. 주파수가 커지면 리액턴스는 작아짐을 알 수 있다. 즉 반비례 관계에 있다는 것이다. 𝔣 = 0인 직류전류에서 Xc는 무한대이다. 이는 직류회로에서 캐패시터는 개방회로로 동작하므로 직류전류는 캐패시터를 통과할 수 없다는 것을 의미한다. 캐패시터의 리액턴스는 측정에 의하여 구할 수 있다.
