▪ 강유전체(强誘電體, ferroelectrics)
1. 자발분극(spontaneous polarization)을 가진다.
2. 외부전기장에 의하여 자발분극의 방향을 바꿀 수 있다.
3. 자성체와 마찬가지로 퀴리온도에서 상전이 현상을 보인다.
4. 압전성(piezoelectric)과 초전성(pyroelectric)을 가진다.
유전체 중에서 자발분극을 가지는 물질
1. DRAM (Dynamic Random Acces Memory)
-동속호출 기억장치 또는 임의접근 기억장치라고도 한다. 컴퓨터의 기억장치로 많이 사용되는 메모리 반도체에는 랜덤 액세스 기억장치인 램(RAM)과 판독 전용 기억장치인 롬(ROM)이 있고, 램에는 일반적으로 동적 램인 디램과 정적 램인 에스램이 있다. 디램은 반도체 산업
가-2. DIMM
현재 인텔 펜티엄이나 모토로라의 파워PC 등과 같은 프로세서에서 64비트 데이터 버스에 알맞게 사용하기 위해서는 72핀 SIMM을 쌍으로 인스톨해야 하며, 이로 인해 모듈이 차지하는 크기가 커졌다. 그러나 소수의 컴퓨터만이 대용량 메모리 모듈을 지원할 수 있었기 때문에 물리적인 크기의 변
ferroelectricity
물질의 magnetic property에서 ferromagnetic 물질이 있는 것처럼, electric property에도 ferroelectric 물질이 있다. 이것은 강한 외부 전기장을 가한 경우에 polarization 되었다가 외부 전기장을 없애도 polarization이 그대로 유지되는 성질이다. 즉, crystal구조의 특이성 때문에 그 자체로 polarization된 상태를
ferroelectric)을 나타내게 된다. 이렇게 120℃를 기준으로 상유전성에서 강유전성으로 성질이 바뀌는데 이러한 온도를 Curie 온도(Tc)라고 한다. 유전성을 나타내는 유전상수 (dielectric constant)는 온도가 증가함에 따라서 증가하다가 Tc에서 최대값을 갖게 되고, Tc 이상의 상유전 영역에서는 온도에 반비례하는
서론
플렉서블 디스플레이란 기존의 디스플레이에서 사용하였던 투명한 유리 기판 대신 유연성이 매우 뛰어나고 얇은 두께를 가진 고분자 기판을 사용한 디스플레이를 일컫는다. 플렉서블 디스플레이의 장점은 우선 기판의 유연한 특성으로 인해 기존의 유리와는 달리 종이처럼 어떤 형태로든 변
Atomic Force Microscopy or Scanning Force Microscopy
AFM is one of many techniques which fall under the Scanned Probe Microscopy (SPM) family of instruments. In all of these SPM techniques a small probe (10-100 nm radius of curvature) is scanned by a piezoelectric device over a sample to produce an image of the sample surface.The first of the SPM techniques was the Scanning Tunneling Microsc
1. LED (Light Emitting Diodes)
LED는 전자인 n형 반도체 결정과 정공인 P형 반도체 결정이 서로 접합된 구조를 갖는 광-전기 변환형의 반도체소자로서 화합물 반도체의 특성을 이용하여 전기신호를 원하는 영역의 파장대역(적외선-가시광선-자외선)을 갖는 빛으로 변환시켜 신호를 보내고 받는데 사용되는 소
1. LED (Light Emitting Diodes)
LED는 전자인 n형 반도체 결정과 정공인 P형 반도체 결정이 서로 접합된 구조를 갖는 광-전기 변환형의 반도체소자로서 화합물 반도체의 특성을 이용하여 전기신호를 원하는 영역의 파장대역(적외선-가시광선-자외선)을 갖는 빛으로 변환시켜 신호를 보내고 받는데 사용되는 소
1. Backgrounds - SEM 의 원리 및 활용
주사 전자 현미경(SEM)은 말 그대로 주사 전현의 상(Scanning Electron Microscope)을 화상으로 볼 수 있는 장치를 뜻한다. SEM은 상부에 위치한 E-Gun의 Filament로부터 전자빔이 방출되어 각각의 components를 지나 시료에 전자 빔이 조사되고 시료에 조사된 전자 빔과 시료에서 반응 및