capacitor의 두께(d)가 얇아질수록 커진다. 그러므로 두께가 얇아질수록 capacitance의 크기는 커질 것으로 예상하였다.
I-V 그래프에서는 누설 전류(Leakage current)를 측정 할 수 있는데, 이 누설 전류는 산화막의 두께에 따라 다르다. 산화막의 두께가 얇아짐에 따라 누설 전류가 증가하는데, 산화막이 얇아지게
실리콘(SiO2)으로 모래, 암석, 광물 등의 형태로 존재한다. 이들은 지각의 1/3정도를 구성하고 있어 지구상에서 매우 풍부하게 존재하고 있으며, 따라서 반도체 산업에 매우 저가의 가격으로 안정적으로 공급될 수 있는 재료이다. 또한 물질에 독성이 전혀 없어 환경적으로 매우 우수한 재료이기도 하다.
재료로서 가장 널리, 많이 사용되고 있다.
반도체를 만들 때는 일반적으로 초크랄스키법을 이용해 실리콘은 거대한 단결정으로 성장시키며 이를 얇게 절단한 것이 wafer이다. 이 실리콘 wafer는 넓은 에너지밴드갭을 가지며 비교적 고온에서도 소자가 작동가능하다는 장점이 있어 다양한 반도체 소자를
되고, 금속기판은 (+)전하를 띄게 되고, 경계면의 Si원자는 (-)charge를 띄게 된다. 이때 hole과 -전자들이 합쳐지고, 남은 소량의 전자들이 Vg가 커짐에 따라 Si과 Oxide의 경계면으로 이동한다. 이때 carrier가 hole에서 (-) charge로 바뀐다. 결국 반도체가 p형에서 n형으로 반전되는 것이므로 inversion이라 한다.
전자(p형에서는 소수 캐리어)를 모아 표면이 n형으로 반전하므로 n+n n+으로 되어 도전성을 갖는다. 전도형의 변화된 영역을 반전층(invertion layer)이라하고 도전성을 갖는 영역을 채널(channel, 이 경우는 n채널)이라 한다. n형 Si를 쓰면 p채널이 생긴다. 이 채널의 도전성은 게이트 전압을 바꾸면 변하므로, 이